ケツト科学研究所 電磁膜厚計 LE-373

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商品の説明

商品情報

《仕様》
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性体上の非磁性被膜
●測定範囲:0〜2500μmまたは99.0mils
●測定精度:50μm未満/±1μm、50μm以上1000μm未満/±2%、1000μm以上/±3%
●分解能:100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
●適合規格:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
●検量線メモリ:アプリケーションメモリ/100本の検量線を記憶
●プローブ:一点接触定圧式(LEP-J)
●電源:電池1.5V(単3アルカリ)×4
●付加機能:各種機能16種
●寸法・質量:75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg
《特長》
●磁性体上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装などの被膜厚を測定する膜厚計です。コンピュータにデータを転送することができ、検量線メモリ、測定データメモリ、上下限設定、統計処理など、16種の機能を装備しています。
●付属品:標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4

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電磁膜厚計 LE-373 | 株式会社ケツト科学研究所

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電磁膜厚計 LE-373

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取扱説明書

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